中文English
 
精密機械製造
航太特殊處理
品質量測技術
 
三次元座標量測驅動技術
機上量測技術
非破壞檢驗螢光滲檢技術
數位影像X射線檢測技術
鈦合金鍛造材發藍探傷檢驗技術
航太認證實驗室檢測技術
智慧製造系統
 
品質量測技術 / 非破壞檢驗螢光滲檢技術
 
螢光滲檢測技術(Fluorescent Penetrant Inspection,FPI)是指以特定的染色或螢光對物件表面之缺陷加以檢測,乃是針對非多孔性固體材料,將滲透液利用毛細作用滲入受檢物件表面間斷或裂縫,然後藉染色或螢光等方式,來檢查或辨別缺陷情況的非破壞檢測方法。主要功能在於檢測細小的缺陷(約0.1mm)、裂痕、氣孔及夾屑等。螢光滲檢測技術獲客戶賽峰(Safran)公司、奇異(GE Aviation)公司及航太第三方NADCAP國際認證。

 
 
 
版權所有© 長亨精密股份有限公司
地址:82151 高雄市路竹區路科十路9號 / 電話:886-7-6955598 / 傳真:886-7-6955589
瀏覽人次:176247
Design by TNDG